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聊聊PCB的環(huán)境測(cè)試用到哪些設(shè)備
點(diǎn)擊次數(shù):437 更新時(shí)間:2023-09-05

聊聊PCB的環(huán)境測(cè)試用到哪些設(shè)備

 

電子行業(yè)用戶很多會(huì)對(duì)PCB進(jìn)行可靠性測(cè)試,那么一般會(huì)要做哪些測(cè)試和哪些設(shè)備呢?  下面給大家分享下


高加速試驗(yàn)

  加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。即需要HALT、HASS試驗(yàn)箱。


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濕度和腐蝕

許多PCB將部署在潮濕的環(huán)境中,因此PCB可靠性的常見測(cè)試是吸水測(cè)試。在這種類型的測(cè)試中,PCB在放入濕度控制的環(huán)境室之前和之后都要稱重。任何吸附在板上的水都會(huì)增加板的重量,重量的任何顯著變化都將導(dǎo)致取消資格。

在操作過(guò)程中進(jìn)行這些測(cè)試時(shí),暴露的導(dǎo)體不應(yīng)在潮濕的環(huán)境中被腐蝕。當(dāng)達(dá)到一定電位時(shí),銅很容易氧化,這就是為什么暴露的銅通常被鍍上抗氧化合金的原因。一些例子包括ENIG、ENIPIG、HASL、鎳金和鎳。  這個(gè)用到鹽霧試驗(yàn)箱

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熱沖擊與循環(huán)

熱測(cè)試通常與濕度測(cè)試分開進(jìn)行。這些測(cè)試包括反復(fù)改變電路板溫度和檢查熱膨脹/收縮如何影響可靠性。在熱沖擊測(cè)試中,電路板使用雙室系統(tǒng)在兩個(gè)溫度之間快速移動(dòng)。低溫通常低于冰點(diǎn),高溫通常高于基片的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度(高于~130℃)。熱循環(huán)使用單個(gè)腔室進(jìn)行,溫度以每分鐘10°C的速度從一個(gè)溫度改變到另一個(gè)溫度。 這用冷熱沖擊試驗(yàn)箱即可。

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在這兩種測(cè)試中,電路板都會(huì)隨著電路板溫度的變化而膨脹或收縮。在膨脹過(guò)程中,導(dǎo)體和焊點(diǎn)會(huì)受到很高的應(yīng)力,這會(huì)加快產(chǎn)品的使用壽命,并使機(jī)械故障點(diǎn)得以識(shí)別。


以上所需的設(shè)備都是咱們的核心產(chǎn)品,勤卓環(huán)試于2010年成立以來(lái),專注發(fā)展可靠性測(cè)試設(shè)備,秉承“一款產(chǎn)品,就是一個(gè)行業(yè)品牌"的發(fā)展理念,勤卓研發(fā)生產(chǎn)的環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備,一直以性能穩(wěn)定,參數(shù)精密,而獲得市場(chǎng)的廣泛認(rèn)可,勤卓品牌試驗(yàn)設(shè)備先后進(jìn)駐中科院、清華大學(xué)、沈飛集團(tuán)、中船重工、比亞迪、邁瑞醫(yī)療、比克電池、華為等各大企事業(yè)單位,受到市場(chǎng)的廣泛好評(píng)和尊敬。要獲得市場(chǎng)的不斷擴(kuò)大和穩(wěn)固,提升品質(zhì),完善服務(wù)是核心,勤卓環(huán)試接下來(lái)將會(huì)一如既往的提升各方面競(jìng)爭(zhēng)力,確保每一款設(shè)備始終成為市場(chǎng)優(yōu)選品牌。

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